Анализ структурных дефектов в выращенном по методу чохральского GaAs и эпитаксиальных композициях на его основе : Автореферат диссерт. : 01.04.07 / Власукова,Людмила Александровна.
Автор(ы): Власукова, Людмила АлександровнаЯзык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн., 1995Физическая характеристика: 15с.ББК: 01.04.07Предметная категория: Белорусский национальный документ
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
Нет никаких комментариев для этого документа.