1. Аникеев, И. И. Миграция электронов и дырок по точечным дефектам в компенсированных полупроводниках и элементах приборных структур на их основе : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Аникеев Илья Иванович ; Белорусский государственный университет УДК 537.311.322:538.9:51(043.3) УДК 621.38-03:621.315.592.3-026.763/.764(043.3). — ББК 22.379.2Издательство: Минск, 2024Физическая характеристика: 21 с. : ил.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: