1. Рембеза, С. И. Методы измерения основных параметров полупроводников : учеб. пособие для вузов / Рембеза,Станислав Иванович. — (Микроэлектроника). — ББК 32.843.3я73Издательство: Воронеж : Издательство Воронежского университета, 1989Физическая характеристика: 222с.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: