000 02066cam0 22005291ia4500
001 BY-HR0000-br393604
005 20211216132240.0
010 ^d500р.
100 ^a20120213d2004 m y0rusy50 ca
101 0 ^arus
102 ^aBY
109 ^aac
^aaa
200 1 ^aСтатистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов
^eАвтореферат диссертации
^e05.27.01
^fСтемпицкий,Виктор Романович.
210 ^aМн.
^d2004
675 ^a621.382.002
^v4
^zrus
686 ^a05.27.01
^2nsnrrb
686 ^a47
^v4
^2rugasnti
610 0 ^aСТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
610 0 ^aТЕХНОЛОГИЧНОСТЬ
610 0 ^aПЛАНИРОВАНИЕ
610 0 ^aАППРОКСИМАЦИЯ
610 0 ^aМИКРОСХЕМЫ
610 0 ^aОПТИМИЗАЦИЯ
610 0 ^aЭКСПЕРИМЕНТЫ
610 0 ^aПРОЕКТИРОВАНИЕ
610 0 ^aМЕТОДЫ
610 0 ^aПАРАМЕТРЫ
610 0 ^aИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
610 0 ^aСТАТЫСТЫЧНЫ АНАЛIЗ
610 0 ^aТЭХНАЛАГIЧНАСЦЬ
610 0 ^aПЛАНIРАВАННЕ(АВ., РАЗМЕТ. НА МЯСЦОВ.)
610 0 ^aАПРАКСIМАЦЫЯ
610 0 ^aМIКРАСХЕМЫ
610 0 ^aАПТЫМIЗАЦЫЯ
610 0 ^aЭКСПЕРЫМЕНТЫ
610 0 ^aПРАЕКТАВАННЕ
610 0 ^aМЕТАДЫ
610 0 ^aПАРАМЕТРЫ
610 0 ^aIНТЭГРАЛЬНЫЯ МIКРАСХЕМЫ
615 ^3BY-SEK-ar1826174
^aБелорусский национальный документ
700 1 ^aСтемпицкий
^bВ. Р.
^gВиктор Романович
801 0 ^aBY
^bBY-HR0000
^c20120213
^gpsbo
801 1 ^aBY
^bBY-HR0000
^c20170521
^gpsbo
690 ^a5
^2Base
^9BY-HR0000
^xRSEK
899 ^aBY-HR0000
^h