000 01872cam0 22004571ia4500
001 BY-HR0000-br407466
005 20211216132552.0
010 ^d600р.
100 ^a20120213d2005 m y0rusy50 ca
101 0 ^arus
102 ^aBY
109 ^aac
^aaa
200 1 ^aФормирование субмикронных КМОП структур с повышенной точностью критических размеров методом проекционной фотолитографии
^eАвтореферат диссертации
^e05.27.01
^fКоробко,Юлия Олеговна.
210 ^aМн.
^d2005
675 ^a621.382.049.77.002:776
^v4
^zrus
686 ^a05.27.01
^2nsnrrb
686 ^a47.33.31
^v4
^2rugasnti
610 0 ^aМИКРОЭЛЕКТРОНИКА
610 0 ^aЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
610 0 ^aЭЛЕМЕНТЫ
610 0 ^aИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
610 0 ^aКОНТРОЛЬ
610 0 ^aТОПОЛОГИЯ
610 0 ^aТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
610 0 ^aНАНОЭЛЕКТРОНИКА
610 0 ^aФОТОЛИТОГРАФИЯ
610 0 ^aМIКРАЭЛЕКТРОНIКА
610 0 ^aЛIКАВАЕ МАДЭЛIРАВАННЕ
610 0 ^aIНТЭГРАЛЬНЫЯ МIКРАСХЕМЫ
610 0 ^aКАНТРОЛЬ
610 0 ^aТАПАЛОГIЯ
610 0 ^aЦВЕРДАЦЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНIКА
610 0 ^aНАНАЭЛЕКТРОНIКА
615 ^3BY-SEK-ar1826174
^aБелорусский национальный документ
700 1 ^aКоробко
^bЮ. О.
^gЮлия Олеговна
801 0 ^aBY
^bBY-HR0000
^c20120213
^gpsbo
801 1 ^aBY
^bBY-HR0000
^c20170521
^gpsbo
690 ^a5
^2Base
^9BY-HR0000
^xRSEK
899 ^aBY-HR0000
^h