000 02400cam0 2200361 ia4500
001 BY-HR0000-br87639276
005 20211216123811.0
100 ^a20130208d2012 k\\\\rusy50 ca
101 0 ^arus
^dbel
^drus
^deng
102 ^aBY
105 ^aa m|||000yy
109 ^aaa
^aac
200 1 ^aИнформационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур
^eавтореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук
^eспециальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
^fЕмельянов Антон Викторович
^gУчреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники"
210 ^aМинск
^d2012
215 ^a24 с.
^cил.
300 ^aРезюме на белорусском, русском и английском языках
320 ^aБиблиография: с. 17—21 (37 назв.)
345 ^960 экз.
606 ^3BY-NLB-ar19436
^aНАДЕЖНОСТЬ
^2DVNLB
606 ^3BY-NLB-ar2406406
^aАВТОРЕФЕРАТЫ
^2DVNLB
606 ^3BY-NLB-ar33870
^aТЕХНОЛОГИЯ ПРОИЗВОДСТВА
^2DVNLB
606 ^3BY-NLB-ar24596
^aПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
^2DVNLB
606 ^3BY-NLB-ar11906
^aИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
^2DVNLB
675 ^a621.3.049.77.037.33(043.3)
^v4
^zrus
686 ^2rugasnti
^a47.33.31
^96
690 ^a5
^2Base
^9HR:DL
^xRSEK
700 1 ^3BY-SEK-677116
^aЕмельянов
^bА. В.
^gАнтон Викторович
712 0 1 ^aБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
^cМинск
^3BY-NLB-ar186905
^4995
801 0 ^aBY
^bBY-HR0000
^c20130208
^gpsbo
899 ^aBY-HR0000
^iЕ 60