Прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров : Автореф. диссерт. : 05.27.01 / Стасюк,Дмитрий Михайлович.
Автор(ы): Стасюк, Дмитрий МихайловичЯзык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн., 2001ББК: 05.27.01 ; 47.14.07Предметная категория: Белорусский национальный документ
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
Нет никаких комментариев для этого документа.