Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем : Учебно-методич. пособие для студ. спец. 41 01 02 "Микроэлектроника" / В.В.Нелаев, В.Р.Стемпицкий ; УО "Бел. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники"

Автор(ы): Нелаев, Владислав Викторович;
                   Стемпицкий, В. Р.Язык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн. : БГУИР, 2002Физическая характеристика: 39с.ISBN:985-444-348-5.ББК: 32.844.15я73 ; 47.33.31Note(s): Библиогр.: с.38-39.Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
ГОНБ. Сектор обслуживания универсального читального зала
Выдается

Библиогр.: с.38-39

100 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: