Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок : Автореф. диссерт. : 01.04.05 / Кутавичюс,Виталий Пранасович.
Автор(ы): Кутавичюс, Виталий ПранасовичЯзык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн., 2004ББК: 01.04.05) ; 29.31Предметная категория: Белорусский национальный документ
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
Нет никаких комментариев для этого документа.