Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для приборостроит. спец. вузов / Глудкин,Олег Павлович.

Автор(ы): Глудкин, Олег Павлович;
                   Черняев, Владимир НиколаевичЯзык документа: Русский.Страна публикации: RU.Издательство: М. : Энергия, 1980Физическая характеристика: 360с.ББК: 32.844.15-07я73 ; 47.01.33 ; 47.33.31 ; 47.33.37Note(s): Предм. указ.: с. 356-357; Библиогр.: с. 355 (19 назв.).
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
ГОНБ. Сектор обслуживания универсального читального зала
Выдается

Предм. указ.: с. 356-357

Библиогр.: с. 355 (19 назв.)

20000 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: