Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники : автореферат диссертации : 05.27.06 / Аваков,Сергей Мирзоевич.

Автор(ы): Аваков, Сергей МирзоевичЯзык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн., 2007Физическая характеристика: 42с.ББК: 05.27.06) ; 29.19.31Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Авторефераты диссертаций/диссертации Авторефераты диссертаций/диссертации
ГОНБ. Книгохранение
Выдается

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: