1. Кутавичюс, В. П. Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок : Автореф. диссерт. / Кутавичюс,Виталий Пранасович. УДК 535.3+535.243]:539.216.2Издательство: Мн., 2004

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: