1. Стасюк, Д. М. Прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров : Автореф. диссерт. / Стасюк,Дмитрий Михайлович. УДК 621.382.019.3Издательство: Мн., 2001

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: