1. Трапашко, Г. А. Методы оптико-электронной регистрации критических размеров субмикронных планарных структур изделий микроэлектроники : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Трапашко Георгий Алексеевич ; Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники" УДК 621.382.049.77-027.3:658.562:535.24.08(043.3)Издательство: Минск, 2014Физическая характеристика: 21 с. : ил.Электронная копия:

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
2.  Технологические комплексы интегрированных процессов производства изделий электроники / [А. П. Достанко и др.] ; под редакцией А. П. Достанко ; Национальная академия наук Беларуси, Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. — ББК 32.844.1Издательство: Минск : Беларуская навука, 2016Физическая характеристика: 250, [1] с. : ил., схемы, табл. ; 25 см

Действия: Заказать Добавить в корзину
Языки: